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CH-12.7-STSX数显薄膜薄片测厚仪
CH-12.7-STSX数显薄膜薄片测厚仪图片
型号: CH-12.7-STSX
产地: 上海
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型号:CH-12.7-STSX
产地:上海
仪器产地:国产其它测厚仪
产品介绍
名称:千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪
分 度 值:0.001mm
测量范围与准确度:0mm~12.7mm ≤0.005mm
主要用途:适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(最大测量深度为80mm)
执行标准:GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993
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